База данных переводных книг

Не является библиотекой. Полнотекстовый доступ к изданиям не предоставляется.

Альфорд, Т. Л., Фельдман, Л. К., Майер, Д. В. Фундаментальные основы анализа нанопленок. Пер. с англ.: М. Долганов. – М.: Научный мир, 2012. – 392 c. Alford T. L., Feldman L. C., Mayer J. W. Fundamentals of nanoscale film analysis. Berlin, Heidelberg, N.Y.: Springer-Verlag, 2007. 336 p. (Russ. ed.: Alford, T.,L., Feldman, L.,C., Mayer, J.,W. Fundamental'nye osnovy analiza nanoplenok. Moscow: Nauchnyi mir Publ., 2012. 392 p.).
Авторы: Альфорд, Т. Л., Фельдман, Л. К., Майер, Д. В. / Alford T. L., Feldman L. C., Mayer J. W.
Год издания: 2012
Издательство: Научный мир
Место издания: М.
Перевод с англ.