База данных переводных книг

Не является библиотекой. Полнотекстовый доступ к изданиям не предоставляется.

Фелдман, Л., Майер, Дж. Основы анализа поверхности и тонких пленок. Пер. с англ. В.А. Аркадьева, Л.И. Огнева; под ред. В.В. Белошицкого. – М.: Мир, 1989. – 342 с. Feldman L. C., Mayer J. W. Fundamentals of surface and thin film analysis. N.Y.: North-Holland Publishig Co., 1986. 352 p. (Russ. ed.: Feldman, L., Mayer, J. Osnovy analiza poverkhnosti i tonkikh plenok. Moscow: Mir Publ., 1989. 342 p.).
Авторы: Фелдман, Л., Майер, Дж. / Feldman L. C., Mayer J. W.
Год издания: 1989
Место издания: М.
Перевод с англ.